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美國Chemplex樣品膜被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測，適用于RoHS&WEEE檢測、油品成份分析、金屬成份分析等。厚度6.0 μm光譜儀薄膜--257
美國Chemplex樣品膜被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測，適用于RoHS&WEEE檢測、油品成份分析、金屬成份分析等。厚度6.0 μm光譜儀薄膜--256
美國Chemplex樣品膜被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測，適用于RoHS&WEEE檢測、油品成份分析、金屬成份分析等。厚度6.0 μm光譜儀薄膜--250
美國Chemplex樣品膜被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測，適用于WEEE檢測、油品成份分析、金屬成份分析等。厚度3.6μm光譜儀薄膜--156
美國Chemplex樣品膜被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測，適用于WEEE檢測、油品成份分析、金屬成份分析等。厚度3.6 μm光譜儀薄膜--150
美國Chemplex樣品膜被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測，適用于RoHS&WEEE檢測、油品成份分析、金屬成份分析等。厚度2.5 μm光譜儀薄膜-106
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